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光刻中紫外光探测的方法和仪器
光刻中紫外光探测的方法和仪器
作者:
郑晓东
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光刻系统
紫外光
探测法
探测仪器
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篇名
光刻中紫外光探测的方法和仪器
来源期刊
LSI制造与测试
学科
工学
关键词
光刻系统
紫外光
探测法
探测仪器
年,卷(期)
1990,(2)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
16-18
页数
3页
分类号
TN305.7
字数
语种
DOI
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研究来源
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研究去脉
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期刊影响力
LSI制造与测试
主办单位:
上海光学仪器研究所
出版周期:
双月刊
ISSN:
CN:
31-1459/TN
开本:
出版地:
上海江西中路450号
邮发代号:
创刊时间:
语种:
出版文献量(篇)
366
总下载数(次)
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