用于半导体灵敏度测试的静电放电模拟器

• 作者: 何鸣
• 来源期刊: 国外计量
• 学科: 工学
• 关键词: 半导体 灵敏度 测试 放电模拟器
• 年，卷（期）: 1990,（3）
• 页码范围: 61-62
• 页数: 2页
• 分类号: TN307

摘要

【正】 为了解决静电放电(ESD)问题,半导体工程师在器件中设计了 ESD 保护电路。用模拟器,或激活器(Zappera),通过控制模仿实际 ESD 过程的测试脉冲测定器件评估 ESD 保护性能。例如,人体模型(HBM 图1)的 ESD 中,