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国外电子材料与器件微分析中心近况
国外电子材料与器件微分析中心近况
作者:
宗祥福
袁榘
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电子材料
电子器件
微分析技术
摘要:
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篇名
国外电子材料与器件微分析中心近况
来源期刊
LSI制造与测试
学科
工学
关键词
电子材料
电子器件
微分析技术
年,卷(期)
1990,(4)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
2-6
页数
5页
分类号
TN407
字数
语种
DOI
五维指标
传播情况
被引次数趋势
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引文网络
引文网络
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1990(0)
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引证文献(0)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
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电子材料
电子器件
微分析技术
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
LSI制造与测试
主办单位:
上海光学仪器研究所
出版周期:
双月刊
ISSN:
CN:
31-1459/TN
开本:
出版地:
上海江西中路450号
邮发代号:
创刊时间:
语种:
出版文献量(篇)
366
总下载数(次)
0
总被引数(次)
0
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