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摘要:
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国外电子元器件可靠性试验情报跟踪
电子元器件
可靠性试验
集成电路测试
试验技术
国内外电子元器件质量等级体系研究
元器件
质量等级
生产保证
可靠性预计
国外电子提花装置性能与应用
电子选针装置
电子提花机
生产过程自动化
国外军用电子元器件可靠性技术研究进展
军用电子元器件
可靠性试验
塑封微电路
光电子
失效分析
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 国外电子材料与器件微分析中心近况
来源期刊 LSI制造与测试 学科 工学
关键词 电子材料 电子器件 微分析技术
年,卷(期) 1990,(4) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 2-6
页数 5页 分类号 TN407
字数 语种
DOI
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1990(0)
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研究主题发展历程
节点文献
电子材料
电子器件
微分析技术
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
LSI制造与测试
双月刊
31-1459/TN
上海江西中路450号
出版文献量(篇)
366
总下载数(次)
0
总被引数(次)
0
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