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文献信息
| 篇名 | 薄摸光学常数的ATR测试 | ||
| 来源期刊 | 薄膜科学与技术 | 学科 | 物理学 |
| 关键词 | 薄摸 光学常数 测试 衰减全反射 | ||
| 年，卷（期） | bmkxyjs_1990,（4） | 所属期刊栏目 | |
| 研究方向 | 页码范围 | 39-46 | |
| 页数 | 8页 | 分类号 | O484.5 |
| 字数 | 语种 | ||
| DOI | |||
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薄摸
光学常数
测试
衰减全反射
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期刊影响力
薄膜科学与技术
主办单位：
南京电子器件研究所
出版周期：
双月刊
ISSN：
CN：
开本：
出版地：
南京1601信箱43分箱
邮发代号：
创刊时间：
语种：
出版文献量（篇）
327
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1
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