论文降重
免费查重- 钛学术文献服务平台 \
- 学术期刊 \
- 综合期刊 \
- 其它期刊 \
- 上海微电子技术和应用期刊 \
LB绝缘膜中缺陷初探
推荐文章
交联聚乙烯电缆绝缘中不同尺度缺陷结构综述
XLPE
缺陷结构
结晶区
无定形区
LB膜中的缺陷畴区及其诱导形成环形草酸钙图形
缺陷LB膜
生物矿化
草酸钙
AFM
刺激—响应涂层及其在绝缘缺陷自诊断中的应用
绝缘缺陷
自诊断
刺激—响应材料
响应机理
综述
基于Mask RCNN的绝缘子自爆缺陷检测
绝缘子
深度学习
Mask RCNN
自爆缺陷
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献 (0)
共引文献 (0)
参考文献 (0)
节点文献
引证文献 (0)
同被引文献 (0)
二级引证文献 (0)
1991(0)
- 参考文献(0)
- 二级参考文献(0)
- 引证文献(0)
- 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
LB膜
绝缘膜
缺陷
测量
半导体
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
上海微电子技术和应用
主办单位：
出版周期：
季刊
ISSN：
1006-9453
CN：
31-1239/TN
开本：
出版地：
上海市胶州路397号 上海半导体器件研究
邮发代号：
创刊时间：
语种：
出版文献量（篇）
435
总下载数（次）
3
总被引数（次）
0
期刊文献
相关文献
推荐文献
