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文献信息
| 篇名 | X射线用于元器件内部结构测绘方法探讨 | ||
| 来源期刊 | 金城科技 | 学科 | 工学 |
| 关键词 | 电器元件 结构 测绘 X射线 探伤 | ||
| 年，卷（期） | jckjb_1991,（3） | 所属期刊栏目 | |
| 研究方向 | 页码范围 | 41-44 | |
| 页数 | 4页 | 分类号 | TM506 |
| 字数 | 语种 | ||
| DOI | |||
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电器元件
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期刊影响力
金城科技
主办单位：
金城机械厂技术情报室
出版周期：
季刊
ISSN：
CN：
开本：
出版地：
南京202信箱126分箱
邮发代号：
创刊时间：
语种：
出版文献量（篇）
379
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