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SOI MOSFET器件中的“Kink 效应”及有关现象
SOI MOSFET器件中的“Kink 效应”及有关现象
作者:
周天舒
黄庆安
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
SOI-MOSFET
KINK效应
场效应晶体管
摘要:
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文献信息
篇名
SOI MOSFET器件中的“Kink 效应”及有关现象
来源期刊
半导体杂志
学科
工学
关键词
SOI-MOSFET
KINK效应
场效应晶体管
年,卷(期)
bdtzz_1992,(3)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
20-24
页数
5页
分类号
TN386.3
字数
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KINK效应
场效应晶体管
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研究来源
研究分支
研究去脉
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期刊影响力
半导体杂志
主办单位:
电子部天津电子材料研究所
天津市电子学会
出版周期:
季刊
ISSN:
1005-3077
CN:
12-1134/TN
开本:
16开
出版地:
天津市河西区陈塘庄岩峰路
邮发代号:
创刊时间:
1976
语种:
chi
出版文献量(篇)
478
总下载数(次)
1
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