高可靠铝栅CMOS电路工艺参数的分析

曹宏斌

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高可靠铝栅CMOS电路工艺参数的分析

高可靠铝栅CMOS电路工艺参数的分析

作者：

曹宏斌

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CMOS电路

工艺参数

铝栅

摘要：

内容分析

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文献信息

篇名	高可靠铝栅CMOS电路工艺参数的分析
来源期刊	延河集成电路	学科	工学
关键词	CMOS电路工艺参数铝栅
年，卷（期）	1992,（1）	所属期刊栏目
研究方向		页码范围	74-78
页数	5页	分类号	TN386.1
字数		语种
DOI

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