X—射线营光光谱分析中确定基体元素参加校正顺序的判据

• 作者: 孙建一
• 来源期刊: 地质实验室
• 学科: 化学
• 关键词: X-射线荧光光谱法 经验系数法 校正顺序判据 基体元素 α系数
• 年，卷（期）: 1992,（4）
• 页码范围: 197-199
• 页数: 3页
• 分类号: O657.34

摘要

本文提出在X－射线荧光光谱分析中理论α系数与基体元素浓度中值之积的绝对值作为经验系法回归时基体元素逐步参加校正的顺序判据，在四硼酸锂熔片体系和地球化学标准物质11个主，次元素浓度范围内考查本法的正确性，并与PLESCH判据法进行比较，实际校正结果表明本法更合理，更简便。

作者信息

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1	孙建一		1	0	0.0	0.0