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XK—2N可控硅电源原理及检修
XK—2N可控硅电源原理及检修
作者:
赵仁
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可控硅
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XK—2N可控硅电源原理及检修
来源期刊
仪器与未来
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工学
关键词
可控硅
电源
原理
检修
年,卷(期)
1992,(7)
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研究方向
页码范围
26
页数
1页
分类号
TN34
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检修
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研究来源
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期刊影响力
仪器与未来
主办单位:
中国仪器仪表学会
出版周期:
月刊
ISSN:
1000-1360
CN:
11-1307/TH
开本:
出版地:
北京月坛南街3号
邮发代号:
创刊时间:
语种:
出版文献量(篇)
1060
总下载数(次)
1
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