C—V法液晶弹性常数的测定

• 作者: 温庆祥 黄锡珉
• 来源期刊: 液晶通讯
• 学科: 工学
• 关键词: 液晶 弹性常数 测定 C-V法
• 年，卷（期）: 1993,（1）
• 页码范围: 73-78
• 页数: 6页
• 分类号: TN104.3

摘要

本文描述了近几年发展的电容—电压或电容频率测量技术,即相敏电容桥。该测量系统由计算机控制,测定频率范围为30Hz-10kHz、利用STN—0020/01SBE液晶材料在不同温度条件下测定了弹性常数K_(11)～14.9×10~(-12)N.K_(33)～15.3×10~(-2)。在玻璃板上镀金膜作为液晶分子平行取向排列层兼作为电极。本测试系统的误差和精度分别在电容值的测量误差为±5％,正弦波(30Hz—10KHz)的频率精度±1％、给出弹性常数K_(11)、K_(22)、K_(33)的误差为±5％～±10％。