液晶分子预倾角的测试原理与方法

• 作者: 王宗凯 黄锡珉
• 来源期刊: 液晶通讯
• 学科: 物理学
• 关键词: 液晶 预倾角 测量 晶体旋转法
• 年，卷（期）: 1993,（1）
• 页码范围: 27-30
• 页数: 4页
• 分类号: O753.2

摘要

本文从物理光学的角度出发,阐述了晶体旋转法测试液晶分子预倾角的原理,并对测试方法进行了描述。在已知液晶材料n_o和n_c的条件下,这一方法可精确测定液晶盒中液晶分子的预倾角,测试精度优于0.2度。