利用漏模技术测量液晶的折射率及盒厚

• 作者: 史若桦 黄锡珉
• 来源期刊: 液晶通讯
• 学科: 工学
• 关键词: 漏模技术 液晶盒 折射率 厚度
• 年，卷（期）: 1994,（1）
• 页码范围: 38-40
• 页数: 3页
• 分类号: TN141.9

摘要

在液晶折射率小于衬底折射率的条件下,利用漏模技术测量液晶的折射率以及液晶盒的厚度。这种技术是利用漏波导的衬底辐射模式,激发的漏模产生从衬底辐射出的m线,将测量的相应耦合角代入已知方程,确定液晶盒的参数。