单片机应用系统抗干扰设计和容错设计

• 作者: 田志良 黄家新
• 来源期刊: 云南工学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: 单片机 干扰 容错设计 工业测量 软件
• 年，卷（期）: 1994,（4）
• 页码范围: 8-15
• 页数: 8页
• 分类号: TP274

摘要

本文从常见干扰入手，剖析了单片机应用系统干扰的来源、作用机理、造成的后果以及应采取的抗干扰对策，为单片机应用系统的正常工作打下基础。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	田志良		3	28	1.0	3.0
2	黄家新		1	0	0.0	0.0