测定完整高粱叶的近轴和远轴表面蜡质量的一个简单方法

• 作者: Prem.,GS 辛爱梅
• 来源期刊: 国外农学：杂粮作物
• 学科: 农学
• 关键词: 高粱 叶片 蜡质量 测定
• 年，卷（期）: 1994,（3）
• 页码范围: 55-56
• 页数: 2页
• 分类号: S514.032

摘要

测定完整高粱叶的近轴和远轴表面蜡质量的一个简单方法Ｇ．Ｓ．Ｐｒｅｍａｃｈａｎｄｒａ等植物上表皮蜡质（ＥＷ）能减少蒸发而对保持叶片水分起着重要的作用（Ｂｌｕｍ，１９７５ａ；Ｊｏｒｄａｎ等，１９８４）。另外，某些植物的ＥＷ还可以保护叶片不受机械磨损和昆虫...