稀土氧化物的ICP—AES半智能直接测定

• 作者: 何平 李劲枝 潘建敏 贺柏龄
• 来源期刊: 检验检疫学刊
• 学科: 化学
• 关键词: 稀土氧化物 ICP—AES 半智能 ICP/AES 直接测定 谱线干扰 背景扣除 发射强度 参考值 干扰背景
• 年，卷（期）: 1994,（4）
• 页码范围: 4-6
• 页数: 3页
• 分类号: O657.3

摘要

目前ICP—AES直接测定稀土氧化物中稀土元素,对谱线干扰一般采用离峰背景扣除校正法,但在目前仪器色散率有限的情况下,这种传统的校正方法只能部分地消除谱线干扰,故分析的准确度常常受到限制。我们根据对稀土氧化物的检测需要,在立柏8440MS ICP/AES所带计算机上,研制了半智能校正稀土干扰线的软件,建立了稀土氧化物的ICP/AES半智能直接测定的分析方