TCXO自动测试系统

• 作者: 吴培才 易福家
• 来源期刊: 压电晶体技术
• 学科: 工学
• 关键词: TCXO 自动测试系统 温度试验箱 温度
• 年，卷（期）: 1995,（1）
• 页码范围: 35-44
• 页数: 10页
• 分类号: TP216.1

摘要

本文介绍一种已经研制成功并投入使用的ＴＣＸＯ自动测试系统。本系统与ＭＣ－８１０Ｐ或者ＭＣ－８１Ｐ、ＭＣ－７１…等温度试验箱对接，可以自动或者半自动（半自动指温度试验箱的温度调节靠人工实施）的完成热敏电阻Ｒ（Ｔ）－Ｔ、ＴＣＸＯ的Ｕ－Ｔ、ｆ－Ｔ特性曲线测量；补偿网络参数的自动计算等。本系统设计思想先进、系统结构紧凑、测量精度高、价格低，最适合ＴＣＸＯ生产厂家的使用。