用ELAN和FMI综合评价裂缝性储层的渗透率

• 作者: Denver 司马立强 杨唐斌
• 来源期刊: 国外测井技术
• 学科: 地球科学
• 关键词: 低孔裂缝性储层 渗透率 孔隙度 FMI 地层微电阻率成像 ELAN
• 年，卷（期）: 1995,（1）
• 页码范围: 46-51
• 页数: 6页
• 分类号: P618.13

摘要

低孔裂缝性储层常规分析得到的渗透率通常很低。主要原因在于总孔隙度与渗透率之间忽略了裂缝孔隙度对渗透率的严重影响。现在，发展了一种新的评价方法，能为裂缝性储层提供更精确的渗透率值。这种方法利用FRACVIEW(斯仑贝谢处理FMI的一种裂缝分析程序)分析FMI(地层微电阻率成像)图像得到的结果计算渗透率。FRACVIEW分析得到的裂缝孔隙度在ELAN中被视为平板模型孔隙度。用GEOPST处理从ELAN模型中得到的结果来确定基质渗透率，然后，用FRACVIEW分析输出的裂缝宽度和校正后的裂缝密度计算裂缝渗透率，裂缝渗透率与基质渗透率之和就是地层的渗透率。这个结果显示在ELAN成果图上。如果不考虑裂缝渗透率，GEOPST渗透率就只反映基质渗透率，且其值要低得多。这种方法已成功地用于美国西部的裂缝性地层，并且能适用于大多数裂缝性地层。