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摘要:
对通过Sol-gel工艺制备的PbTiO3薄膜在Ar^+溅射前后作了XPS全扫描和窄扫描测量,结果表明,除了薄膜原始表面有化学吸附氧和污染碳外,薄膜中没有残余的单质碳或其他杂质元素存在,薄膜的元素组成与化学计量比一致,薄膜表面无富集Pb。各元素的化学状态证实薄膜系PbTiO3钙钛矿型结构,Ar^+溅射引起Pb择优溅射和化合物分解,以致Ar^+溅射后薄膜表面元素组成与化学状态严重偏离薄膜体内层的真实
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文献信息
篇名 溶胶—凝胶沉积PbTiO3薄膜成分和结构的XPS分析
来源期刊 薄膜科学与技术 学科 工学
关键词 PbTiO3薄膜 XPS 溶胶-凝胶沉积 铁电材料
年,卷(期) bmkxyjs,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 77-83
页数 7页 分类号 TN304.9
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研究主题发展历程
节点文献
PbTiO3薄膜
XPS
溶胶-凝胶沉积
铁电材料
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薄膜科学与技术
双月刊
南京1601信箱43分箱
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