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基于March C-算法的单片机存储器测试
单片机
March
C-算法
存储器测试
故障覆盖率
存储器模块测试系统的设计
存储器模块
测试系统
数字波形发生器
CMOS存储器IDD频谱图形测试
互补金属氧化物半导体存储器
电源电流
频谱图形
测试向量
缺陷
基于LabVIEW和FPGA的存储器测试系统设计
LabVIEW
SRAM静态随机存储器
串口通信
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 大规模并行机的存储器测试
来源期刊 电子计算机 学科 工学
关键词 存储器 测试 并行计算机 大规模
年,卷(期) 1995,(2) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 1-9
页数 9页 分类号 TP333.06
字数 语种 中文
DOI
五维指标
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1995(0)
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研究主题发展历程
节点文献
存储器
测试
并行计算机
大规模
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子计算机
双月刊
CN 32-1582/TP
江苏无锡33信箱811号
出版文献量(篇)
703
总下载数(次)
2
总被引数(次)
0
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