评估HPM对电子系统影响的一种方法

• 作者: Pesta,AJ 张永昌
• 来源期刊: 国外科技资料
• 学科: 工学
• 关键词: HPM 电子系统 辐射 LPM试验
• 年，卷（期）: 1995,（1）
• 页码范围: 57-61
• 页数: 5页
• 分类号: TN6

摘要

本文提出了评价军用系统对高功率微波（ＨＰＭ）辐射的射频（ＲＦ）感受度时所需要的几类测量及分析的方法学指导原则。设计该方法的目的是为获得最大ＨＰＭ辐射感受度信息而提供一种框架。按照此方法，五角大楼（ＤＯＤ）将可以把他们的结果信息编入共享国家数据库。这个数据库将为国防界提供有效、核对过的感受度信息以使昂贵、不必要的系统重新评价工作最少。