非晶硅薄膜晶体管矩阵的计算机辅助测试

• 作者: 徐重阳 符晖
• 来源期刊: 液晶通讯
• 学科: 工学
• 关键词: 非晶硅 薄膜晶体管 计算机辅助测试
• 年，卷（期）: 1995,（1）
• 页码范围: 40-45
• 页数: 6页
• 分类号: TN321.5

摘要

本文提出了一种通过外接电容的耦和电压推算出晶体管特性的矩阵器件测试方法。利用本系统可以对晶体管进行逐个扫描，并推算出缺陷的类型 和分布、矩阵板的均匀性及器特件特性。同时文中引入了 统计分析 以确定标准值的范围。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐重阳	华中理工大学固体电子学系	33	239	9.0	14.0
2	符晖	华中理工大学固体电子学系	2	0	0.0	0.0