数字IC离线测试仪

• 作者: 杨龙祥
• 来源期刊: 电子与仪表
• 学科: 工学
• 关键词: 自动测试 离线测试 测试仪 数字集成电路
• 年，卷（期）: 1995,（2）
• 页码范围: 30-32
• 页数: 3页
• 分类号: TN407

摘要

给出了ＬＸ２００Ｂ全自动数字ＩＣ离线测试仪的原理，硬件实现及软件流程，该离线测试仪是一种新型实用的数域仪表。