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文献信息
篇名 温度和压力对远距PECVDSiO2结构的影响
来源期刊 等离子体应用技术快报 学科 工学
关键词 温度 压力 PECVD 二氮化硅 薄膜
年,卷(期) 1995,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 13-14
页数 2页 分类号 TN304.055
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