显微镜结合计算机测定均方根粒度RMS

• 作者: 王健
• 来源期刊: 影像科学与实践
• 学科: 工学
• 关键词: 胶片 微密度测定 影像微结构 RMS值
• 年，卷（期）: 1995,（3）
• 页码范围: 30-32
• 页数: 3页
• 分类号: TQ577.7

摘要

本文介绍一种由光学显微镜结合计算机进行胶片的微密度测量，并通过计算机的数据采集和数据处理获得胶片的ＲＭＳ值。同时介绍一种保持胶片在测量过程中始终处于焦平测量平台装置以及测试样品的制备。