浅谈高压硅整流设备二次高压的测量及高压表校准方法

• 作者: 郭知初
• 来源期刊: 大连电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 高压硅整流设备 二次高压 测量 校准
• 年，卷（期）: 1996,（1）
• 页码范围: 5-7
• 页数: 3页
• 分类号: TN350.7

摘要

本文通过对高压硅整流设备二次高压测量的原理及其波形的分析，并对几种测量仪表的原理进行了讨论，得出选用磁电系仪表来测量二次高压的结论。由实验数据提出校表的必要性，并针对不同负载情况下，根据各负载二次高压波形分析及数学计算，论证出校表的具体方法。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭知初		3	0	0.0	0.0