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永磁元件磁性参数快速无损检测方法
永磁元件磁性参数快速无损检测方法
作者:
何水校
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
永磁元件
快速检测
无损检测
摘要:
本文简要介绍了永磁元件的快速,无损测量方法及所需仪器,设备,并说明了采用这些检测系统时所应当注意的若干问题,对大生产工程具有较好的参考价值。
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文献信息
篇名
永磁元件磁性参数快速无损检测方法
来源期刊
LSI制造与测试
学科
工学
关键词
永磁元件
快速检测
无损检测
年,卷(期)
lsizzycs_1996,(2)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
31-34
页数
4页
分类号
TM273.06
字数
语种
DOI
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1996(0)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(0)
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研究主题发展历程
节点文献
永磁元件
快速检测
无损检测
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
LSI制造与测试
主办单位:
上海光学仪器研究所
出版周期:
双月刊
ISSN:
CN:
31-1459/TN
开本:
出版地:
上海江西中路450号
邮发代号:
创刊时间:
语种:
出版文献量(篇)
366
总下载数(次)
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