微带印刷电路镀膜厚度的测量

• 作者: 吴志刚
• 来源期刊: 电讯工程
• 学科: 工学
• 关键词: 镀膜厚度 测量 粗糙度 微带印刷电路
• 年，卷（期）: dxgc,（1）
• 页码范围: 34-38
• 页数: 5页
• 分类号: TN710.07

摘要

使用真空镀膜工艺，在微带印刷电路上产生的镀膜厚度，是否符合要求，将对其使用性能，如：电器性能等有很大的影响。本文提出使用测量粗糙度的仪器设备，对镀膜层厚度进行测量，着重介绍使用轮廓仪进行测量后，能取得精度高的测量数据。