γ辐照对晶体管电学参数的影响

• 作者: 王锦荣 高仲林
• 来源期刊: 核农学通报
• 学科: 工学
• 关键词: Γ辐照 电学参数 点缺陷 晶体管
• 年，卷（期）: 1996,（2）
• 页码范围: 75-76
• 页数: 2页
• 分类号: TN32

摘要

研究了掺磷、硼的ＮＰＮ型电子器件的反向击穿电压ＢＶＣＥＯ、ＢＶＣＢＯ和放大系数ＨＦＥ和＾６０Ｃｏ γ射线辐照下受到的影响，用辐射引起的点缺陷对获得的实验结果进行了讨论和解释。