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JSM—35C型扫描电子显微镜真空及真空控制系统故障部位的判…
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文献信息
| 篇名 | JSM—35C型扫描电子显微镜真空及真空控制系统故障部位的判… | ||
| 来源期刊 | 国外分析仪器技术与应用 | 学科 | 工学 |
| 关键词 | 扫描电子显微镜 真空系统 真空控制系统 | ||
| 年，卷（期） | 1996,（2） | 所属期刊栏目 | |
| 研究方向 | 页码范围 | 45-50 | |
| 页数 | 6页 | 分类号 | TN16 |
| 字数 | 语种 | ||
| DOI | |||
五维指标
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研究主题发展历程
节点文献
扫描电子显微镜
真空系统
真空控制系统
研究起点
研究来源
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研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
国外分析仪器技术与应用
主办单位：
北京分析仪器研究所
出版周期：
季刊
ISSN：
1001-7828
CN：
11-1088/TH
开本：
出版地：
北京西直门葡萄院17号
邮发代号：
创刊时间：
语种：
出版文献量（篇）
1087
总下载数（次）
7
总被引数（次）
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