元测试程序的可视化验证环境

• 作者: 张晓军 杨桥林
• 来源期刊: LSI制造与测试
• 学科: 工学
• 关键词: IC TEDS TOPC 测试开发系统 可视化 验证环境
• 年，卷（期）: 1996,（4）
• 页码范围: 24-27
• 页数: 4页
• 分类号: TN407

摘要

在测试开发系统－ＴｅＤＳ中，我们定义了元测试程序设计语言ＴＯＰＣｔ ＴｅＩＦ，它们是在多种测试程序的脱开发和移植中起桥梁作用，用它们开发和变换生成的元测试程序主要用来生成不同的测试程序，鉴于它们的重要作用，我们运用向对象的技术和可视化的设计思想开发了元测试程序的验证环境。