基于开放平台的测试图形生成系统

• 作者: 孟红霞 时万春
• 来源期刊: LSI制造与测试
• 学科: 工学
• 关键词: 测试图形 开放平台 集成电路 测试
• 年，卷（期）: lsizzycs_1996,（4）
• 页码范围: 32-37
• 页数: 6页
• 分类号: TN407

摘要

测试程序的初始开发费用随着集成电路器件的发展居高不下；另一方面，随着器件速度和产量需求的提高，常常需要在不同测试仪上测试同类器件，然而各测试仪厂家之间仍然缺乏共同的标准。