大型测试系统直流子系统校准

• 作者: 时万春 许伟明
• 来源期刊: LSI制造与测试
• 学科: 工学
• 关键词: 测试 直流子系统 校准 集成电路
• 年，卷（期）: 1996,（4）
• 页码范围: 46-48
• 页数: 3页
• 分类号: TN407

摘要

本文根据实践，提出了大型测试系统直流子系统校准的算法和经验，并重点分析了采样点的拟合过程。