残气质谱分析在LAS—2000上的应用

• 作者: 王志文 王明旭
• 来源期刊: 四川真空
• 学科: 工学
• 关键词: 残气质谱 质谱分析 真空质谱仪
• 年，卷（期）: sczkb,（1）
• 页码范围: 41-46
• 页数: 6页
• 分类号: TB773

摘要

本文详尽地探讨高真空及超高真空中的残余气体的质谱分析方法，并运用这些方法在ＬＡＳ－２０００二次离子质谱仪上进行了应用研究，使我们对ＬＡＳ－２０００的本底真空有所了解，发现其超高真空中含较多的碳氢化合物。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王明旭		24	83	7.0	8.0
2	王志文		8	27	3.0	5.0