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性能强大的光学检验可降低质量控制的成本
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文献信息
| 篇名 | 性能强大的光学检验可降低质量控制的成本 | ||
| 来源期刊 | 最新电子技术应用 | 学科 | 工学 |
| 关键词 | SMD技术 数字图象处理 自动光学检验 电子工业 | ||
| 年，卷（期） | zxdzjsyy_1997,（3） | 所属期刊栏目 | |
| 研究方向 | 页码范围 | 39-40 | |
| 页数 | 2页 | 分类号 | TN06 |
| 字数 | 语种 | ||
| DOI | |||
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