X射线过程分析仪器及其应用

• 作者: 丁元明 王雪
• 来源期刊: 分析测试仪器通讯
• 学科: 工学
• 关键词: X射线 荧光光谱仪 过程分析仪器 应用 XRF
• 年，卷（期）: 1997,（2）
• 页码范围: 76-80
• 页数: 5页
• 分类号: TH744.16

摘要

介绍了基于现代Ｘ射线荧光光谱分析法的过程分析仪器，及其在冶金、地质、半导体材料等部门中的应用。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	丁元明		1	0	0.0	0.0
2	王雪		1	0	0.0	0.0