BIT IC 提供自动测试设备的能力

王爱云

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BIT IC 提供自动测试设备的能力

BIT IC 提供自动测试设备的能力

作者：

王爱云

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BIT

自动测试设备

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文献信息

篇名	BIT IC 提供自动测试设备的能力
来源期刊	现代电子工程	学科	工学
关键词	BIT 自动测试设备 IC
年，卷（期）	1997,（3）	所属期刊栏目
研究方向		页码范围	79-86
页数	8页	分类号	TP274
字数		语种	中文
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