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摘要:
通过X射线动力学理论计算的晶体摆动曲线与测试实验曲线的比较给出外延薄膜材料的结构,为器件研制了工作提供了有用的数据,证明运用X射线动力学理论计算计算机拟合能为薄膜材料成分和厚度提供无损检测手段。
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文献信息
篇名 X射线双晶衍射在微波半导体器件中的应用
来源期刊 半导体杂志 学科 工学
关键词 双晶衍射 摆动曲线 计算机拟合 微波半导体器件
年,卷(期) bdtzz,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 10-13
页数 4页 分类号 TN385
字数 语种
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 郝建民 13 112 7.0 10.0
2 张世敏 1 0 0.0 0.0
传播情况
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1998(0)
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研究主题发展历程
节点文献
双晶衍射
摆动曲线
计算机拟合
微波半导体器件
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体杂志
季刊
1005-3077
12-1134/TN
16开
天津市河西区陈塘庄岩峰路
1976
chi
出版文献量(篇)
478
总下载数(次)
1
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