贯彻MIL-STD-883C标准的集成电路老化测试系统

• 作者: 刘向东 李朝阳 谷宇章
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 老化 老化中测试 集成电路 可靠性试验
• 年，卷（期）: 1998,（1）
• 所属期刊栏目: 测控技术应用
• 页码范围: 27-30
• 页数: 4页
• 分类号: TP3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4598.1998.01.007

摘要

本文在介绍MIL-STD-883C标准集成电路老化筛选试验方法的基础上,详细介绍了"PIC-4集成电路高温动态老化实时测试系统"的设计过程,包括系统的总体结构、软硬件设计及其关键技术.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘向东	浙江大学光科系	55	434	11.0	18.0
2	李朝阳	浙江大学光科系	5	49	4.0	5.0
3	谷宇章	浙江大学光科系	1	8	1.0	1.0