基于数据库通用自动测试系统

• 作者: 封吉平 张宏伟 蔡金燕
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 自动测试 测试系统 数据库 验证设计 生产检验 调试 故障诊断
• 年，卷（期）: 1998,（4）
• 所属期刊栏目: VXI总线
• 页码范围: 5-8
• 页数: 4页
• 分类号: TP2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4598.1998.04.002

摘要

基于数据库的通用自动测试系统能够应用于电子产品的设计、制造和使用维护各个阶段,并适用于各个电子产品,无论是已有的产品还是新开发电子产品.本文阐述了集成这种通用自动测试系统的必要性,用数据库控制通用自动测试系统的原理,系统的软硬件设计和应用展望.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	封吉平	军械工程学院电子系	40	171	8.0	10.0
2	蔡金燕	军械工程学院电子系	144	811	13.0	18.0
3	张宏伟	军械工程学院电子系	64	278	8.0	14.0