X射线荧光光谱法直接测定地质样品中多种痕量元素

• 作者: 姜桂兰 季桂娟 肖国拾 苏克 邹海峰
• 来源期刊: 岩矿测试
• 学科: 工学
• 关键词: X射线荧光光谱法 地质样品 痕量元素
• 年，卷（期）: 1998,（3）
• 所属期刊栏目: 实验技术
• 页码范围: 0
• 页数: 1页
• 分类号: TD1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0254-5357.1998.03.011

摘要

采用低压聚乙烯镶边垫底的粉末压饼法制样,X 射线荧光光谱法直接测定了地质样品中痕量元素As、Ga、Sc、La、Y、Ce、W、Mo、Sn、Co和Pb.讨论了背景校正、谱线重叠校正、基体效应校正和仪器漂移校正等问题.利用理论α系数代替经验系数,使方法具有较高的准确度和较低的检出限.所测11个元素的检出限在(0.30～2.02)×10-6水平, 精度(RSD,n=11)在0.95%～13.0%.方法经国家一级标准物质分析验证,结果与标准值相符.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姜桂兰	长春科技大学应用理学院化学系	5	98	3.0	5.0
2	季桂娟	长春科技大学应用理学院化学系	2	25	2.0	2.0
3	邹海峰	长春科技大学应用理学院化学系	4	45	2.0	4.0
4	苏克	长春科技大学应用理学院化学系	2	6	2.0	2.0
5	肖国拾	长春科技大学应用理学院化学系	2	41	2.0	2.0