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摘要:
采用低压聚乙烯镶边垫底的粉末压饼法制样,X 射线荧光光谱法直接测定了地质样品中痕量元素As、Ga、Sc、La、Y、Ce、W、Mo、Sn、Co和Pb.讨论了背景校正、谱线重叠校正、基体效应校正和仪器漂移校正等问题.利用理论α系数代替经验系数,使方法具有较高的准确度和较低的检出限.所测11个元素的检出限在(0.30~2.02)×10-6水平, 精度(RSD,n=11)在0.95%~13.0%.方法经国家一级标准物质分析验证,结果与标准值相符.
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文献信息
篇名 X射线荧光光谱法直接测定地质样品中多种痕量元素
来源期刊 岩矿测试 学科 工学
关键词 X射线荧光光谱法 地质样品 痕量元素
年,卷(期) 1998,(3) 所属期刊栏目 实验技术
研究方向 页码范围 0
页数 1页 分类号 TD1
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.0254-5357.1998.03.011
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 姜桂兰 长春科技大学应用理学院化学系 5 98 3.0 5.0
2 季桂娟 长春科技大学应用理学院化学系 2 25 2.0 2.0
3 邹海峰 长春科技大学应用理学院化学系 4 45 2.0 4.0
4 苏克 长春科技大学应用理学院化学系 2 6 2.0 2.0
5 肖国拾 长春科技大学应用理学院化学系 2 41 2.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
X射线荧光光谱法
地质样品
痕量元素
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
岩矿测试
双月刊
0254-5357
11-2131/TD
大16开
北京市西城区百万庄大街26号
2-313
1982
chi
出版文献量(篇)
2641
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12
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