高复现性波片测量方法和实验

• 作者: 戴高良 殷纯永
• 来源期刊: 计量学报
• 学科: 工学
• 关键词: 1/4波片法 法拉第旋光 复现性
• 年，卷（期）: 1998,（2）
• 页码范围: 136-141
• 页数: 6页
• 分类号: TB9
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-1158.1998.02.010

摘要

建立了一种高精度波片位相延迟量的测量装置,它以磁光调制式1/4波片法为基础,其测量精度优于KD*P电光调制检测法.本文介绍了磁光调制器的设计,总结了磁光调制方法的最优解调特性,提出了测量装置的结构,其中强调了磁光调制器必须放置在标准1/4波片之后以满足最优解调特性.误差分析表明,环境温度和机械安装是影响测量精度的重要因素.实验对同一批波片进行了长时间多次重新安装测量,其复现精度优于20'.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	殷纯永	清华大学精仪系	43	662	14.0	24.0
2	戴高良	清华大学精仪系	3	42	3.0	3.0