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摘要:
阐述了箭(弹)载连续波相参应答机机内由于电磁干扰(EMI)而产生锁相环虚假锁定的机理以及消除方法.阐述了箭(弹)载连续波相参应答机机内由于电磁干扰(EMI)而产生锁相环虚假锁定的机理以及消除方法.一、引言电磁干扰出现的三个基本要素为:电磁干扰源、耦合途径和受害
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文献信息
篇名 外测系统箭(弹)载电子设备EMC的考虑
来源期刊 电讯技术 学科 工学
关键词 电磁兼容 相参应答机 锁相环
年,卷(期) 1998,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 47-50
页数 4页 分类号 TN91
字数 语种 中文
DOI
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研究主题发展历程
节点文献
电磁兼容
相参应答机
锁相环
研究起点
研究来源
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研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电讯技术
月刊
1001-893X
51-1267/TN
大16开
成都市营康西路85号
62-39
1958
chi
出版文献量(篇)
5911
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21
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