直流等离子体原子发射光谱在纯钕中稀土杂质分析的应用

• 作者: 陈俊芬
• 来源期刊: 岩矿测试
• 学科: 工学
• 关键词: 直流等离子体原子发射光谱 纯钕基体 稀土杂质 光谱干扰
• 年，卷（期）: 1998,（4）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 254-258
• 分类号: TD1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0254-5357.1998.04.003

摘要

应用直流等离子体中阶梯光栅直读光谱仪进行纯钕中14个稀土杂质元素的分析,选定了干扰小、检出限低的最佳分析线,对干扰的来源和性质作了研究,从而拟定了纯钕中稀土杂质元素的分析方法.该方法的检出限在3～81 μg/L,RSD(n=11)在1%～3.6%,加标回收率为92%～108%.方法已用于纯金属钕和氧化钕中杂质稀土的分析.

作者信息

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