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声学扫描显微镜检查标准研究
声学扫描显微镜
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显微镜法快速测试织物线密度的研究
显微镜法
密度
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拟合
视频显微镜成像技术的应用研究
视频显微镜
成像技术
区别分析
工业应用
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 生产测试技术的新方法 晶圆级背面辐射显微镜检查芯片缺陷法
来源期刊 电子信息(深圳) 学科 工学
关键词 电子元器件 生产测试技术 芯片 辐射显微镜
年,卷(期) 1998,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 38-39
页数 2页 分类号 TN606
字数 语种
DOI
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研究主题发展历程
节点文献
电子元器件
生产测试技术
芯片
辐射显微镜
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子信息(深圳)
季刊
深圳市华发北路30号(原2号)
出版文献量(篇)
72
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