钒的Kβ谱带精细结构的测定及钒的价态分析

• 作者: 孙伟莹 谭秉和
• 来源期刊: 岩矿测试
• 学科: 地球科学
• 关键词: 化学价态分析 X射线荧光光谱 钒
• 年，卷（期）: 1998,（2）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 0
• 页数: 1页
• 分类号: P57
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0254-5357.1998.02.005

摘要

用普通X射线荧光光谱仪测定了钒的氧化物、钒酸盐及含钒混合物中V的Kβ谱线,借助一套有效的谱处理程序,获得了有关Kβ谱线精细结构的谱峰参数,证实了谱线轮廓(Kβ″峰逐渐显著,Kβ5、Kβ″向高能端位移,Kβ5与Kβ1,3的分开趋势,Kβ1,3半峰宽发生变化)及谱峰参数(Kβ5峰能量,Kβ5与Kβ1,3能量差,Kβ5与Kβ1,3及Kβ″与Kβ1,3的强度比,以及Kβ5和Kβ1,3的不对称因子)与V的氧化数变化呈很强的相关性及规律性变化.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙伟莹	北京科技大学化学系	3	15	2.0	3.0
2	谭秉和	北京科技大学化学系	7	30	3.0	5.0