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摘要:
围绕传统型横向高压器件LIGBT存在的关断时间较长和闩锁电流密度较小等缺点,本文对近年来提出的一系列新型结构的LIGBT作为较系统的分析与对比。
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LDMOS
RESURF技术
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导通电阻
内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 横向高压器件LIGBT的新型结构
来源期刊 半导体杂志 学科 工学
关键词 LIGBT 结构 关断时间 闩锁效应 功率器件 IC
年,卷(期) bdtzz_1998,(4) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 45-50
页数 6页 分类号 TN303
字数 语种
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 杨媛 西安理工大学电子工程系 92 559 12.0 19.0
2 张国海 西安理工大学电子工程系 1 0 0.0 0.0
传播情况
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引文网络
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1998(0)
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研究主题发展历程
节点文献
LIGBT
结构
关断时间
闩锁效应
功率器件
IC
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体杂志
季刊
1005-3077
12-1134/TN
16开
天津市河西区陈塘庄岩峰路
1976
chi
出版文献量(篇)
478
总下载数(次)
1
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