VXI系统是电子装备最优化的自动测试系统结构

• 作者: 冯锡智 刘亚卿 刘胜利
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: VXI总线 自动测试系统
• 年，卷（期）: 1998,（2）
• 所属期刊栏目: VXI总线技术专栏
• 页码范围: 13-15,26
• 页数: 4页
• 分类号: TP2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4598.1998.02.003

摘要

本文简要分析军械电子装备自动检测的现状及发展趋势,提出了VXI系统是最优化的自动测试系统结构的论点,并结合实例说明VXI总线技术组建通用自动测试系统的原理和构造.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘胜利		1	9	1.0	1.0
2	刘亚卿		1	9	1.0	1.0
3	冯锡智		2	14	2.0	2.0