对付共模辐射的DAISET—F电缆

• 作者: 赵芳灿
• 来源期刊: 文献快报：纤维光学与电线电缆
• 学科: 工学
• 关键词: DAISET-F电缆 电缆 共模辐射 结构
• 年，卷（期）: 1998,（7）
• 页码范围: 23-28
• 页数: 6页
• 分类号: TM249.504

摘要

连接电子设备的接口电缆中的屏蔽层，起着天线的作用，会引起共模辐射。作为对策，我们在电缆护套内添加磁性损耗层，开发出ＤＡＩＳＥＴ－Ｆ电缆。