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摘要:
通过试验对取样量、研磨时间、粉末粒度、称样量、压力、保持时间、光洁度等进行了研究.制定了硅铁粉末直接压片的制样方法,用ARL8480型X射线荧光光谱仪测定了硅铁中硅、铝、钙、铬、锰、磷、硫等元素,特别是对高含量硅的测定其准确度与精密度都取得了令人满意的结果.
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文献信息
篇名 XRF测定硅铁的制样方法研究
来源期刊 光谱实验室 学科 工学
关键词 硅铁 制样方法 XRF分析
年,卷(期) 1998,(2) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 0
页数 1页 分类号 TQ13
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1004-8138.1998.02.022
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李仲轩 1 8 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
硅铁
制样方法
XRF分析
研究起点
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
光谱实验室
双月刊
1004-8138
11-3157/O4
16开
北京市高梁桥斜街13号院35号楼204室
82-863
1984
chi
出版文献量(篇)
6771
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3
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37136
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